非接触式测厚仪？铁基涂镀层测厚仪如何使用？

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测厚仪怎么用啊

测厚仪（thicknessgauge）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项：

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

koh young锡膏检测仪检测原理

锡膏厚度测试仪利用激光投射原理，将高精度的红色激光（精度可达15微米）投射到印刷锡膏表面，并利用高分辨率的数字相机将激光轮廓分离出来。根据轮廓的水平波动可以计算出锡膏的厚度变化并描绘出锡膏的厚度分布图，可以监控锡膏印刷质量，减少不良。

锡膏厚度测试仪是一种利用激光非接触三维扫描密集取样技术，将印刷在PCB板上的锡膏（红胶）厚度、面积、体积等分布测量出来的设备。该设备广泛应用于SMT生产贴片领域，是管控锡膏印刷质量的重要量测设备。

其实锡膏测厚仪和SPI都是同一种设备，只是在国内习惯把离线式的锡膏厚度检测设备统称为“锡膏测厚仪”，而将在线式的锡膏厚度检测设备习惯叫做“SPI”。

聚氨酯厚度测量仪有哪些

1.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。2.薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

3.涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。

4.激光测厚仪：利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。

5.X射线测厚仪：主要应用行业于有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

6.超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

铁基涂镀层测厚仪如何使用

测量将仪器探头垂直接触被测物的表面，仪器将自动开机并测得数据。注意：测量时务必要使探头垂直接触被测物表面。

2、调零仪器在测量前，为减少测量误差，应在基体上取零位作基准。可以用没有涂层的工件表面也可以用随仪器带基体。用仪器测量基体，如显示0，表明已是零位，不用再调零。如不显示0，则需要调零。将仪器探头压在调零板或未喷涂的工件表面上，不要抬起，按一下仪器上的红键松开，液晶显示一组数后，拿开仪器，液晶显示0，调零完毕。注意：由于工件表面粗糙度的原因，调零后，再测时不一定是绝对的零位，这是正常现象。

3、Fe/NFe探头转换QuaNix4500为两用探头，当测量不同的基体时，需要对磁性模式(Fe)与非磁性模式(NFe)进行转换。在开机状态下，按红键进入菜单选项，继续按红键选择Fe或者Nfe选项短暂停留后，就已选择相应的测量模式，也可以选择FeNfe选项，短暂停留后就进入自动识别基体模式(推荐使用)！

4、显示Fe：测量铁磁性基体模式NFe：测量非磁性基体模式Err：操作失误INFI：探头模式与被测基体不符BAT：电量不足，需换电池

测厚仪有几种

测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素这四种。

超声波测厚仪

超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用最广的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，最大测定厚度达2000mm左右，精度在±0.01～±0.1mm之间。

磁性测厚仪

在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。

涡流测厚仪

当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

同位素测厚仪

利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

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